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              文章詳情

              賽默飛/熱電電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)-iCAP6000/7000系列故障及參考解決方案

              日期:2025-07-01 16:54
              瀏覽次數(shù):434
              摘要:賽默飛/熱電電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)-iCAP6000/7000系列ICP光譜儀是應(yīng)用較為廣泛的原子發(fā)射光譜儀,具有較佳的精密度及穩(wěn)定性。本文是上海鑄金分析儀器有限公司分享的賽默飛網(wǎng)站技術(shù)資料,希望對(duì)iCAP6300/iCAP6500/iCAP72000/iCAP7400/iCAP7600光譜分析儀的用戶有所幫助。

              賽默飛/熱電電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)-iCAP6000/7000系列故障及參考解決方案

              主要現(xiàn)象

              可能原因

              解決方案

              點(diǎn)火困難

              不滿足點(diǎn)火條件

              檢查儀器內(nèi)鎖各指示燈是否有紅色

              氣體純度不夠

              氬氣純度>99.995%

              點(diǎn)火頭位置偏移

              調(diào)整點(diǎn)火頭位置

              點(diǎn)火后自動(dòng)熄火

              進(jìn)樣系統(tǒng)漏氣

              檢查各接頭是否漏氣

              霧化室積液

              **廢液管排液順暢

              內(nèi)鎖保護(hù)啟動(dòng)

              檢查儀器內(nèi)鎖各指示燈是否有紅色

              準(zhǔn)確性差

              標(biāo)液失效

              重新配制標(biāo)液并繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線

              線性不好

              重新建立標(biāo)準(zhǔn)曲線

              物理干擾、化學(xué)干擾

              標(biāo)液與樣品基體匹配

              連續(xù)稀釋

              標(biāo)準(zhǔn)加入法
               
               

              內(nèi)標(biāo)法

              ICP-OES譜線干擾

              換譜線

              譜圖處理(手動(dòng)調(diào)整背景等)

              iEC校正
               
               

              **高

              檢查**是否污染

              前處理

              前處理需消解徹底、轉(zhuǎn)移完全,防止揮發(fā)

              查詢文獻(xiàn),針對(duì)不同的樣品,用*適宜的酸

              酸濃度控制在1-3%,不要*過(guò)5%

              樣品中顆粒物粒徑<10μm,否則需過(guò)濾

              穩(wěn)定性差

              霧化氣流量不合適

              設(shè)置合適的霧化器流量

              霧化器堵塞

              清潔霧化器,*好使用氣體反吹

              霧化室掛液

              清洗霧化室

              矩管積鹽

              清潔矩管
               
               

              不同時(shí)間,測(cè)定結(jié)果不同

              不可沿用之前的標(biāo)曲,重新建立標(biāo)曲并測(cè)試

              進(jìn)樣管和蠕動(dòng)泵

              檢查進(jìn)樣管是否漏夜

              檢查進(jìn)樣管是否老化失去彈性

              設(shè)置合適的泵夾壓力

              設(shè)置合適的沖洗時(shí)間(防止記憶效應(yīng))

              光路部分

              實(shí)驗(yàn)前用氬氣對(duì)光路系統(tǒng)充分吹掃

              實(shí)驗(yàn)時(shí)儀器光路溫度續(xù)穩(wěn)定在38±0.1

              實(shí)驗(yàn)時(shí)應(yīng)**室內(nèi)溫度、濕度穩(wěn)定

              儀器點(diǎn)火后需穩(wěn)定15-30 min再行實(shí)驗(yàn)

              光路校準(zhǔn)值XY偏差值不*過(guò)±3

              定期進(jìn)行矩管準(zhǔn)直

              必要時(shí)可使用單標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)尋峰

              紫外見(jiàn)不到閃耀

              外光路石英窗污染

              清潔石英窗

              外光路石英窗密封圈失效

              更換密封圈

              常見(jiàn)測(cè)試問(wèn)題

              低含量元素測(cè)不準(zhǔn)確

              低于儀器檢出限,建議更低檢出限的儀器

              鋼鐵基體中B測(cè)不好

              B的靈敏線249.6249.7nm受到Fe的干擾,鋼鐵中測(cè)B可以選擇182.6nm

              Cu時(shí),P測(cè)不好

              P 177.4213.6nm受到Cu的干擾,用178.2nm波長(zhǎng)

              實(shí)際樣品結(jié)果偏高

              避免前處理過(guò)程有污染

              進(jìn)樣系統(tǒng)腐蝕

              樣品中含氫氟酸,或者酸度過(guò)高(應(yīng)<5%

              易揮發(fā)元素測(cè)不準(zhǔn)

              避免前處理過(guò)程揮發(fā)損失

              高鹽樣品堵塞霧化器

              選用高鹽進(jìn)樣系統(tǒng)

              有機(jī)樣品易熄火

              選用有機(jī)進(jìn)樣系統(tǒng)

              常見(jiàn)軟件報(bào)錯(cuò)

              F', //OVER_FAIL

              高限檢查失敗

              F', //BELOW_FAIL

              低限檢查失敗

              W', //OVER_WARN

              高限檢查警告

              W', //BELOW_WARN

              低限檢查警告

              C', //OVERCAL_ERR

              濃度*過(guò)校準(zhǔn)曲線范圍 (*過(guò)曲線點(diǎn))

              c', //UNDERCAL_ERR

              濃度為負(fù)值 (低于**標(biāo)準(zhǔn))

              D', //PEAK_OFFCHIP

              分析峰偏離檢測(cè)器 (數(shù)據(jù)不能獲取)

              ^', //SATURATED

              分析峰飽和 (數(shù)據(jù)不能獲取)

              P', //PLASMA_ERR

              炬管問(wèn)題或者其它等離子體條件出錯(cuò)

              *', //GEN_ERR

              總體出錯(cuò) – 無(wú)數(shù)據(jù)獲取

              *', //READ_ERR

              不能讀取光譜子陣列圖

              N',  //

              曝光前未選擇分析譜線


              ——來(lái)源:賽默飛網(wǎng)站

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